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| SEM(Scanning Electron Microscope) 주사 현미경
목 차
1. SEM이란
2. SEM의 개발 역사
3. SEM의 작동 원리
4. SEM의 구성
5. SEM의 분해능
6. SEM의 시편준비
7. SEM으로 관찰한 여러 가지 영상
1. SEM이란
SEM은 주사전자 현미경으로서 고체 상태의 미세조직과 형상을 관찰하는데 매우 유용하게 사용되는 분석기기 중 하나이다. 기존의 광학현미경의 최대 확대배율은 1,500배이다. 이 값이상은 해상.. |
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| 재료공학기초실험. SEM
-SEM 을 통한 미세구조 관찰
1. Backgrounds - SEM 의 원리 및 활용
주사 전자 현미경(SEM)은 말 그대로 주사 전현의 상(Scanning Electron Microscope)을 화상으로 볼 수 있는 장치를 뜻한다. SEM은 상부에 위치한 E-Gun의 Filament로부터 전자빔이 방출되어 각각의 components를 지나 시료에 전자 빔이 조사되고 시료에 조사된 전자 빔과 시료에서 반응 및 반사되어 나오는 각 전.. |
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| 주사전자 현미경을 이용한 이미지 관찰 실험(전복껍데기와 손톱의 미세구조)
1. 과제의 배경
[그림 ] 주사 전자 현미경(EDS장착)
SEM(Scanning Electron Microscope)은 주사전자 현미경으로 재료의 미세조직과 형상을 관찬하는데 매우 유용하게 사용되는 분석기중 하나이다. 기존의 광학현미경은 분해능(Resolution)이 0.2 ㎛가 한계였다. 즉, 두 점 사이가 0.2 ㎛보다 클 경우에만 구별이 가능하다는 뜻.. |
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| Scanning Electron Microscopy (SEM)
[예비레포트]
1. 실험목적
1. SEM 장비의 원리를 이해한다.
2. 기판 위에 얹은 Co 박막을 SEM 장비를 통해 분석한다.
3. Co 박막의 위상학적 정보를 수집하며, 이를 분석하여 Co 박막의 자기적, 결정학적 성질을 발견한다
2. 실험이론
▷ SEM(Scanning Electron Microscopy) 이란
- 고체상태에서 작은 크기의 미세조직과 형상을 관찰 할 때 쓰이는 전자 현미경
• .. |
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| 분석기기에 관해 - 주사전자현미경[SEM, FE-SEM], X선 형광 분석기[XRF], X선 회절 분석기[XRD], 시차 열 중량 열량 분석기[TG-DTA], 입도분석기
1. 주사전자현미경 (SEM, FE-SEM)
- 개요 -
NT(Nano Technology)의 연구가 증가하면서 자연스럽게 미세구조물 또는 재료의 표면 형상에 대한 정보가 요구되고 있는 것이 현재의 추세이다. 이러한 요구를 충족시키기 위하여 전자현미경이 계발 되었다.
주사.. |
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| 1. 실험목적
기술이 진보함에 따라 마이크론 크기나 그 이하 크기의 시료에 대한 관찰과 분석을 통한 정확한 이해가 필요하게 되었다. 이러한 미세 구조에 대한 관심으로 인해 단순한 확대경에서 광학현미경에 이르는 현미경의 발전이 이루어졌다.그러나 아무리 성능이 우수한 렌즈를 사용한 광학현미경이라 하더라도 광원으로 사용되는 빛의 파장이 가지는 한계성으로 인해 미세 구조에 대해서는 관찰이 .. |
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| SEM에 관한 장담점 분석 원리 기능적인 요소
기기에 필요한 시료제작법 응용법 등이 있습니다
많은 양의 사진자료 보유
SEM
원리 구성
전자총
전자광학계
진공계
전자회로계
렌즈
SEM의 영상 형성 과정
시료 제작법
응용
장단점
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)은 고체 상태에서 작은 크기의 미세 조직과 형상을 관찰할 때 널리 쓰이는 현미경으로서 1965년 최초로 상품화된 후 .. |
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| SEM(Scanning Electron Microscope)
1. SEM이란
SEM은 주사전자 현미경으로서 고체 상태의 미세조직과 형상을 관찰하는데 매우 유용하게 사용되는 분석기기 중 하나이다. 기존의 광학현미경의 최대 확대배율은 1,500배이다. 이 값이상은 해상능(Resolution)이라고 하는 렌즈(빛)의 성질에 의해 제한을 받는다. 분해능 (Resolution)은 illumination system의 파장, 대안렌즈나 대물렌즈의 numerical apert.. |
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| 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
원리
전자발생원(electron source)으로부터 전자선을 조사해 미소한 점으로 초점을 맞추고, 검출기로 미소점에서의 변화된 신호량의 대소를 브라운관 점의 명암으로써 영상시키는 방식이다. 전자선이 조사될 때 후방 산란 전자(back scattered electron), 2차 전자(secondary electron), X선, 음극 형광 등이 발생된다. 발생한 전자는 검출기에 의해 전류신.. |
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| 매직 스트레이트 중간린스 방법에 따른 모발의 영향
A
B
서론
매직 스트레이트
정의
조건
1제 (연화작용)
아이론 온도
2제 (산화작용)
서론
시술 과정
물
샴푸
트리트먼트
서론
중간 린스
정의
중화제를 하기전
1제를 씻어내는 과정
효과
서론
본론
실험 1. 시료제작
30회 샴푸
메틸렌 블루
본론
실험 2. 측정
SEM 촬영
본론
실험 3. 측정
메틸렌 블루 결과값
결과
SEM 결과
결과
결 론
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| 1. 원리
①SEM(주사전자현미경) - SEM은 고체상태에서 미세조직과 형상을 관찰하는 데 가장 다양 하게 쓰이는 분석기기이다. SEM의 초점심도가 크기 때문에 3차원적인 영상의 관찰이 용 이해서 곡면 혹은 울퉁불퉁한 표면의 영상을 육안으로 관찰하는 것처럼 보여준다. 이 SEM 은 전자가 표본을 통과하는 것이 아니라 표본의 한 점에 집중되면 일차전자만 굴절되고 표 면에서 발생된 이차 전자는 검파기(det.. |
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| 1. 분쇄기구
분쇄의 방법으로는 조쇄와 분쇄로 나누어 진다. 조쇄는 물체를 굵직굵직하게 깨는 방법으로 망치나 끌로 물체에 충격을 주어서 깨는 것을 말한다. 그리고 분쇄는 조쇄보다도 아주 미세하게 가루로 만드는 것을 말한다.
조쇄는 충격에 대한 방법으로 물체의 입자가 굵직굵직하고, 분쇄는 여러 가지 방법에 따라 달라지겠지만 충격, 마찰, 충격마찰에 대한 방법이 있다.
분쇄기는 파쇄기로 미.. |
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| [ 전체적인 과정 ] TEM용과 SEM용을 구별하여 준비
조직 접수 → 고정 → overnight 냉장→ TEM용 시료(99%이상)/SEM용 시료(1년에 20case 이내) 제조 → 퇴근 전 포매처리, overnight (80℃에서 블록을 형성) → 다음날 trimming 해서 semithin section → ultrathin section → 전자염색 → 전자현미경 촬영 → sacn → 컴퓨터로 확인
⇒ 고정 ~ 포매 전 까지를 전처리 과정으로 본다. TEM용/SEM용을 구분해서 과정을.. |
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| 실험제목: 주사전자현미경을 이용한 미세구조 관찰
1.실험목적
본 실험에서는 주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope: SEM)을 이용하여 재료의 미세구조를 관찰하는 방법을 학습한다.
2.실험 준비물
표준시험편 (바륨타이네이트(BaTiO3) 등 세라믹 분말 및 소결체
주사전자현미경
Image analyzing software
3.이론적 배경
3.1 구조-물성-프로세싱의 관계
재료의 미세구조는 프로세싱에 의하.. |
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| 실험: Dry etching
1. 실험 목적
MOS CAP을 제작하는 전체의 공정에서 Photolithography 공정을 실시한 후 Si기판을
플라즈마를 이용하여 식각하는 공정인 Dry etching 을 실시하며 FE-SEM을 이용하여
SiO2 inspection을 측정한다. 이번 실험에서 전원의 세기를 300와트로 에칭 시간을
3min, 5min, 7min으로 변화를 주어 에칭 시간을 조정함에 따라 제품의 SiO2 inspection이
어떤 영향을 받는지 확인하고.. |
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