투과전자현미경 분석의뢰서
(Transmission Electron Microscope)
No. 20 년월일
소속
과실 (TEL :)
성명
지도교수 : 의뢰자 : (인)
분석요구일시
20 년월일시～시
분석내용
BF( ), DF( ), DP( ), CBOP( ), HRTEM( ), EDS( ), PEELS( )
시료 준비기기
Ion Milling( ), Slurry Wire Saw( ), Slurry Disc Cutter( )
Machining Dimple Grinder( )
Ultrasonic Disc Cutter( ), JET-Polishing( )
Spark Erosion Cutter( ), Diamond Wheel Saw( )
Lift-Off( )
시료명
수량:상태:
재료성분 : 시료회수 (Yes/No)
특기사항
담당자 : (TEL. )
기술지원 과 |
2008.02.26
1페이지
