[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
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[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔..
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2013.12.26
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[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]
[방사선 기기학] The method of X-ray scanning[XRD 스캔방법]

1.Laue 법

Laue 법은 처음으로 사용한 회절법이며 Laue 경의 본래 실험을 재현한다. 이 방법에서는 x선 관에서 나온 연속스펙트럼인 백색 x선을 고정한 단결정에 맞춘다. 따라서 Bragg각인 를 결정 내의 모든 조의 면에 대하여 고정하고 각 조의 면은 특정한 d와 의 값에 대하여 Bragg 법칙을 만족하는 x선 파장을 선택하여 회절한다. 그 결과 회절한 각각의 빔은 파장이 다르게 된다.
Laue 법에는 x선 원, 결정, 필름 내의 상대 위치에 따라 두 가지 방법이 있다(그림 3-9). 둘다 모두 필름은 편평한 것을 사용하고 입사빔에 수직으로 놓인다. 투과 Laue 법(transmission Laue method, 최초의 Laue 법)에서 필름은 전방으로 회절하는 빔을 기록하기 위해 결정 뒤에 놓인다. 회절된 빔이 부분적으로 결정을 투과하기 때문에 그렇게 부른다. 배면 반사 Laue 법(back-reflection Laue method)에서 필름은 결정과 x선 원 사이에 놓이고 입사빔은 필름에 뚫린 구멍을 통과하여 후방으로 회절한 빔을 기록한다.

어느 방법이든 회절빔은 그림3-10에 나타낸 것과 같은 반점 배열을 필름에 형성한다. 이 반점의 배열을 보통 무늬(pattern)라고 한다. 이 용어는 어떤 특정한 뜻을 포함하고 있는 것은 아니고 반점의 주기적인 배열을 의미하지도 않는다. 그러나 사진에 그린 선으로 나타낸 바와 같이 반점은 어떤 곡선 위에 놓인다. 이 곡선은 보통 투과무늬에서 타원이나 쌍곡선이고 [그림 3-10(a)] 배면 반사(back-reflection Laue method)에서는 쌍곡선이다[그림3-10(b)].

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