[SEM촬영 보고서] 주사전자 현미경을 이용한 이미지 관찰 실험(전복껍데기와 손톱의 미세구조)

주사전자 현미경을 이용한 이미지 관찰 실험(전복껍데기와 손톱의 미세구조)

1. 과제의 배경

[그림 ] 주사 전자 현미경(EDS장착)

SEM(Scanning Electron Microscope)은 주사전자 현미경으로 재료의 미세조직과 형상을 관찬하는데 매우 유용하게 사용되는 분석기중 하나이다. 기존의 광학현미경은 분해능(Resolution)이 0.2 ㎛가 한계였다. 즉, 두 점 사이가 0.2 ㎛보다 클 경우에만 구별이 가능하다는 뜻이다. 이는 우리 일상에서는 매우 작은 크기이지만 재료의 미세구조를 관찰하기에는 충분하지 못한 성능이기 때문에 보다 작은 구조를 보기 위해서 전자현미경이 사용된다. 또한 SEM은 광학현미경과 다르게 미세구조를 입체적으로 촬영하는 것이 가능하기 때문에 기존에 사용되던 광학현미경을 통해 재료의 표면을 파악하는 것 보다 많은 정보를 얻는 것이 가능하기 때문에 재료를 파악하는 재료공학과에서 매우 중요한 기구라고 할 수 있다.
재료를 알아보기 위해서 미세구조를 파악하는 것은 중요한 일이기 때문에 이번 SEM을 이용한 미세구조 촬영 실험을 통하여 전자현미경의 사용법과 SEM을 통해 찍은 이미지를 분석, 파악하는 능력을 기르고자 한다.

2. 실험 목적
이번 실험의 목적은 SEM을 통해 특정 소재의 미세구조를 파악하는데 있다. 우리 조는 이번기회에 전복껍데기와 손톱의 단면을 알아보고자 하였다.
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